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Jilin Chinese Academy of Sciences - Yanshen Technology Co., Ltd.
| 中文名稱(chēng) | 聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM） |
|---|---|
| 英文名稱(chēng) | ZEISSCrossbeam540；HeliosG4PFIBHXe；Helios600i |
| Cas No. | |
| 化學(xué)式 | |
| 分子量 | |
| 性狀 | |
| 存儲(chǔ)要求 |
| 符號(hào) | |
|---|---|
| 危險(xiǎn)品標(biāo)志 | |
| 安全說(shuō)明 | |
| 危險(xiǎn)類(lèi)別碼 | |
| 危險(xiǎn)品分類(lèi) | |
| 化學(xué)穩(wěn)定性 |
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